XED4900E變頻抗干擾介質損耗測試儀簡介:
1.本儀器用于現(xiàn)場抗干擾介損測量,或試驗室精密介損測量。
2.儀器為一體化結構,內置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標準電容器等。
3.采用變頻抗干擾和傅立葉變換數字濾波技術,全自動智能化測量,強干擾下測量數據非常穩(wěn)定。
4.測量結果由大屏幕液晶顯示,自帶微型打印機可打印輸出。
二,XED4900E變頻抗干擾介質損耗測試儀主要技術指標
準確度: Cx:±(讀數×1%+1pF) tgδ:±(讀數×1%+0.00040)
抗干擾指標: 變頻抗干擾,在200%干擾下仍能達到上述準確度 電容量范圍: 內施高壓:3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV 外施高壓:3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV 分辨率:*0.001pF,4位有效數字 t gδ范圍:不限,分辨率0.001%, 電容、電感、電阻三種試品自動識別。 試驗電流范圍:10μA~5A 內施高壓: 設定電壓范圍:0.5~10kV *大輸出電流:200mA 升降壓方式:連續(xù)平滑調節(jié) 電壓精度:±(1.5%×讀數+10V) 電壓分辨率:1V 試驗頻率:45、50、55單頻 頻率精度:±0.01Hz 外施高壓: 正接線時*大試驗電流1A,工頻或變頻40-70Hz 反接線時*大試驗電流10kV/1A,工頻或變頻40-70Hz
CVT自激法低壓輸出: 輸出電壓3~50V,輸出電流3~30A 測量時間:約40s,與測量方式有關 輸入電源:180V~270VAC,50Hz/60Hz±1%,市電或發(fā)電機供電 計算機接口:標準RS232接口 打印機: 煒煌A7熱敏微型打印機 環(huán)境溫度:-10℃~50℃ 相對濕度:<90%