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產品資料

變頻抗干擾介質損耗測試儀

產品名稱: 變頻抗干擾介質損耗測試儀
產品型號: XED4900E
產品展商: 揚州欣恩達
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

XED4900E變頻抗干擾介質損耗測試儀采用變頻抗干擾技術,在200%干擾下仍能準確測量,測試數據穩(wěn)定,適合在現(xiàn)場做抗干擾介損試驗。


變頻抗干擾介質損耗測試儀  的詳細介紹

  XED4900E變頻抗干擾介質損耗測試儀簡介:

  1.本儀器用于現(xiàn)場抗干擾介損測量,或試驗室精密介損測量。

  2.儀器為一體化結構,內置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標準電容器等。

  3.采用變頻抗干擾和傅立葉變換數字濾波技術,全自動智能化測量,強干擾下測量數據非常穩(wěn)定。

  4.測量結果由大屏幕液晶顯示,自帶微型打印機可打印輸出。
 

  二,XED4900E變頻抗干擾介質損耗測試儀主要技術指標

         
 準確度:
Cx:±(讀數×1%+1pF)

tgδ:±(讀數×1%+0.00040)

抗干擾指標:
變頻抗干擾,在200%干擾下仍能達到上述準確度

電容量范圍:
內施高壓:3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV

外施高壓:3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV
分辨率:*0.001pF,4位有效數字
 t gδ范圍:不限,分辨率0.001%,

電容、電感、電阻三種試品自動識別。

試驗電流范圍:10μA~5A

內施高壓:
設定電壓范圍:0.5~10kV

*大輸出電流:200mA
 升降壓方式:連續(xù)平滑調節(jié)
電壓精度:±(1.5%×讀數+10V)
 電壓分辨率:1V
試驗頻率:45、50、55單頻
頻率精度:±0.01Hz

外施高壓:
正接線時*大試驗電流1A,工頻或變頻40-70Hz

反接線時*大試驗電流10kV/1A,工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓輸出:
輸出電壓3~50V,輸出電流3~30A

測量時間:約40s,與測量方式有關
輸入電源:180V~270VAC,50Hz/60Hz±1%,市電或發(fā)電機供電
計算機接口:標準RS232接口
打印機: 煒煌A7熱敏微型打印機
 環(huán)境溫度:-10℃~50℃
相對濕度:<90%

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